介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀有哪些結構特征？
結構特征與工作原理
1、系統(tǒng)組成
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀由S916測試裝置（夾具）、ZJD-C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJD-C)、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最jia解決方案。
1. 基于串聯(lián)諧振原理的《ZJD-C高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的最高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描(ZJD-C)的全新搜索功能。該表具有先進的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率100KHz-160MH，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取最高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。
2、《AS916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。AS916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司新研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電
容裝置不可避免的測量誤差。
3、一個高品質(zhì)因數(shù)（Q)的電感器是測量系統(tǒng)的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統(tǒng)中它與平板電容（AS916）構成了基于串聯(lián)諧振的測試回路。本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。
4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入AS2853A)，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算的。
